玉煒科技主營波分復(fù)用器,CWDM,DWDM,光源光功率計,插回?fù)p測試儀,光纖衰減器，MPO跳線等產(chǎn)品，關(guān)于多模光纖器件測試時影響插損的主要因素下面由波分復(fù)用器廠家小編給大家科普，歡迎咨詢洽談交流！

多模光纖插入損耗的測試在很大程度上取決于測試光源的發(fā)射條件。不同的光源會產(chǎn)生不同的發(fā)射條件。例如，一個LED光源將以“過滿注入(Over fill)”的方式將光注入到光纖內(nèi)，而一個激光器光源（如VCSEL）將以“欠注入(Under fill)”的方式將光注入到光纖內(nèi)，如圖1所示。波分復(fù)用器廠家使用不同發(fā)射條件的光源進(jìn)行多模光纖的插入損耗測試時，由于光源的注入方式不同，將給測試結(jié)果帶來差異。

當(dāng)采用LED光源進(jìn)行測試時，由于光源的發(fā)散角大，光源以“過滿注入”的方式將多種模式的光注入到光纖內(nèi)。穩(wěn)定的低階模在靠近纖芯中心傳輸，而不穩(wěn)定的高階模在遠(yuǎn)離纖芯中心甚至在包層中傳輸。不穩(wěn)定的高階模在光纖中傳輸一段距離后將會消失，因此插入損耗測試結(jié)果將比實際值偏大。

當(dāng)波分復(fù)用器廠家采用VCSEL光源進(jìn)行測試時，由于光源的發(fā)散角小，光源以“欠注入”的方式將少量模式的光注入到光纖內(nèi)。由于光源發(fā)射的高階模數(shù)量太少，而且某些故障（例如連接器插頭對接時的纖芯錯位）無法被檢測到，因此插入損耗測試結(jié)果將比實際值偏小。在“過滿注入”和“欠注入”的發(fā)射條件下測試得到的插入損耗結(jié)果偏差很可能會高達(dá)50%以上。